요약본 발명은 단일 큐비트 계측에서 양자 상관 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 단일 큐비트(single qubit)을 사용한 결정론적 양자 계산(deterministic quantum computation) 모델과 같은 단일 큐비트 계측(single qubit metrology) 실험에서 양자 상관 프로브의 계측적 자원 이용을 조사하는 양자 상관 측정 기술에 관한 것으로, 본 발명의 일실시예에 따른 단일 큐비트 계측에서 양자 상관 측정 장치는 혼합된 양자 상태에 제어 큐비트에 기반한 아다마르(Hadamard) 연산을 적용하여 양자 상태를 입력하는 입력부, 제어 단일(controlled-unitary)에 기반하여 상기 입력된 양자 상태에 대한 단일 진화(unitary evolution)를 수행하는 상호 작용부 및 상기 수행된 단일 진화에 따른 단일 연산자의 정규화된 추적을 생성하고, 상기 생성된 정규화된 추적을 이용하여 양자 상관을 측정하는 측정부를 포함할 수 있다.
