• 요약 본 발명은 결함의 형상과 방향에 관계없이 누설자속 또는 유도전류의 왜곡에 기인하는 자속밀도분포의 변화를 자기광학소자에 전사하여 신속하고 정확하게 결함에 대한 비파괴검사를 수행할 수 있는 자기광학효과를 이용한 비파괴 검사장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 자기광학효과를 이용한 비파괴 검사장치는 검사대상체의 상부에 위치하는 자기광학소자, 상기 검사대상체에 자기장 또는 유도전류를 인가하는 회전자화수단, 상기 자기광학소자로 편광된 빛을 조사하고, 상기 자기광학소자로부터 반사되어 돌아오는 빛을 수광하는 검광자를 포함하는 편광검광수단을 포함하되,상기 회전자화수단은 검사대상체에 자기장 또는 유도전류를 인가할 수 있는 제1 자기발생장치를 포함하고, 검사대상체를 중심으로 상기 제1 자기발생장치가 회전하면서 상기 검사대상체에 인가되는 자기장 또는 유도전류의 방향을 변화시킬 수 있도록 형성된다.
  • 대표 도면
  • R&D 프로젝트 개인기초연구(과기정통부)
  • 심판 위험 분석 심판 이력 없음
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  • 전략기술 분류 첨단로봇·제조
    K1

  • 특허 강도 지표
    7
    청구항
    2
    인용
    0
    패밀리

  • 출원번호 10-2025-0174737 KIPRIS
  • 출원일 2025-11-18
  • 공개번호 10-2025-0168113
  • 공개일 2025-12-02
  • 등록번호
  • 등록일

  • 현재 상태 공개

  • IPC 코드 G01N 27/83; G01N 27/90; G01N 21/21

  • 대리인 특허법인지원
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