• 요약 본 발명의 산화물 반도체 트랜지스터는 산화물 반도체층; 산화물 반도체층의 양단에 연결되는 소스 전극과 드레인 전극; 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 상기 산화물 반도체층 사이에 마련되며, 상기 산화물 반도체층과의 OAD 값 차이로 인해 상기 산화물 반도체층에 국부적인 도핑 농도를 증가시키는 기능층; 및 상기 산화물 반도체층과 적어도 일부가 중첩하는 게이트 전극을 포함하며, 상기 산화물 반도체층의 국부적인 도핑 농도 증가로 인해, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 상기 산화물 반도체층 사이의 접촉 저항이 감소될 수 있다.
  • 대표 청구항 산화물 반도체층; 산화물 반도체층의 양단에 연결되는 소스 전극과 드레인 전극; 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 상기 산화물 반도체층 사이에 마련되며, 상기 산화물 반도체층과의 OAD 값 차이로 인해 상기 산화물 반도체층에 국부적인 도핑 농도를 증가시키는 기능층; 및 상기 산화물 반도체층과 적어도 일부가 중첩하는 게이트 전극을 포함하며, 상기 산화물 반도체층의 국부적인 도핑 농도 증가로 인해, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 상기 산화물 반도체층 사이의 접촉 저항이 감소되는 산화물 반도체 트랜지스터.
  • 대표 도면
  • 전략기술 분류 반도체·디스플레이
    전력반도체

  • 출원번호 10-2023-0009350 KIPRIS
  • 출원일 2023-01-25
  • 공개번호 10-2024-0063728
  • 공개일 2024-05-10
  • 등록번호
  • 등록일
  • 우선권 번호 10-2022-0144935
  • 우선권 국가 KR
  • 우선권 주장일 2022-11-03

  • 현재 상태 심사중
  • 현재 권리자
  • IPC 코드 H10B-012/00, H01L-029/786, H01L-029/66, H01L-021/02