요약일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어서, 복수의 화소들을 포함하는 디스플레이 패널; 하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리; 및 하나 이상의 프로세서를 포함하며, 상기 하나 이상의 프로세서는 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하여, 상기 디스플레이 패널과 객체(object) 간의 접촉 영역에 포함된 화소들의 발광 패턴을 변경하고, 상기 변경된 발광 패턴에 따라 상기 접촉 영역에서 반사되는 제1 반사 패턴을 측정하고, 상기 제1 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 표면 조도를 검출하고, 상기 디스플레이 패널과 객체 간의 접촉으로 인해 발생된 상기 디스플레이 패널의 투명층의 변형 정도를 추정하고, 상기 투명층의 변형 정도에 기초하여 상기 접촉 영역에서 반사되는 제2 반사 패턴을 측정하고, 상기 제2 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 경도를 검출할 수 있다.
대표 청구항디스플레이 장치에 있어서, 복수의 화소들을 포함하는 디스플레이 패널; 하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리; 및 하나 이상의 프로세서를 포함하며, 상기 하나 이상의 프로세서는 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하여, 상기 디스플레이 패널과 객체(object) 간의 접촉 영역에 포함된 화소들의 발광 패턴을 변경하고, 상기 변경된 발광 패턴에 따라 상기 접촉 영역에서 반사되는 제1 반사 패턴을 측정하고, 상기 제1 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 표면 조도를 검출하고, 상기 디스플레이 패널과 객체 간의 접촉으로 인해 발생된 상기 디스플레이 패널의 투명층의 변형 정도를 추정하고, 상기 투명층의 변형 정도에 기초하여 상기 접촉 영역에서 반사되는 제2 반사 패턴을 측정하고, 상기 제2 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 경도를 검출하는 디스플레이 장치.
