• 요약 레지스트막의 해상도 및 감도를 향상시킬 수 있고 레지스트 패턴의 붕괴를 억제할 수 있으며 내식각성이 증가된 언더레이어가 제공된다. 상기 언더레이어는 화학식1로 표시되는 주석산화물 클러스터들이 서로 가교된 물질을 포함한다. [화학식1] [(R-Sn)12O14(OH)6]2+[Rx-]2 화학식1에서, R은 탄소수 1 내지 20의 알킬기이고, Rx-는 짝음이온으로 알킬 벤젠 설포네이트 음이온이다.
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  • 전략기술 분류 수소
    A1

  • 특허 강도 지표
    20
    청구항
    14
    인용
    0
    패밀리
    4
    권리이전

  • 출원번호 10-2023-0172321 KIPRIS
  • 출원일 2023-12-01
  • 공개번호 10-2024-0131876
  • 공개일 2024-09-02
  • 등록번호 10-2803-4110000
  • 등록일 2025-04-29

  • 현재 상태 등록공고

  • IPC 코드 G03F 7/11; G03F 7/004; G03F 7/16; G03F 7/20; G03F 7/32

  • 대리인 특허법인고려
  • 심사관 이흥재

  • 원문 보기 KIPRIS 원문