요약본 발명이 일 측면에 따른 DRAM 테스트를 위한 테스트 및 샘플링 시스템은 시스템은, DRAM으로부터 리드된 데이터 신호를 고속데이터 신호로 정규화된 데이터 입력신호로 변환하여 고속동작 경로를 통하여 비교기 장치로 전송하는 프리앰프 및 상기 DRAM으로부터 리드된 데이터 신호를 저속데이터 신호로 정규화된 제1, 2데이터 입력신호로 변환하여 저속동작 경로를 통하여 비교기 장치로 전송하는 버퍼장치를 포함하며, - 여기서 상기 고속동작 경로와 저속동작 경로는 상기 테스트 시스템에 의해 어느 하나의 경로로 선택적으로 동작하는 것을 특징을 함, 상기 저속동작 경로에서 동작하는 비교기 장치는, 상기 버퍼장치에서 전송된 제1, 2 데이터 입력신호를 제1, 2 입력데이터 트랜지스터 소자에 의해 제1, 2 셋업노드에 로딩하는 구성을 포함하는 입력회로; 상기 제1, 2 셋업노드로 로딩된 신호를 비교하여 제1, 2 출력 데이터로 출력하는 구성을 포함하는 출력회로; 및 상기 제1, 2 입력데이터 트랜지
