• 요약 본 명세서는 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것이다. 일 실시예에 따른 반도체 장치의 제조 방법은, 기판상에 절연층이 형성되는 단계, 마이크로웨이브 열처리 공정이 수행되는 단계, 상기 절연층상에 도전층이 형성되는 단계 및 열처리 공정이 수행되는 단계를 포함할 수 있다.
  • 대표 청구항 기판상에 절연층이 형성되는 단계;마이크로웨이브 열처리 공정이 수행되는 단계;상기 절연층상에 도전층이 형성되는 단계; 및열처리 공정이 수행되는 단계를 포함하는반도체 장치의 제조방법.
  • 대표 도면
  • 전략기술 분류 반도체·디스플레이
    반도체, 디스플레이 소재, 부품, 장비

  • 출원번호 10-2023-0080997 KIPRIS
  • 출원일 2023-06-23
  • 공개번호 10-2024-0001067
  • 공개일 2024-01-03
  • 등록번호
  • 등록일
  • 우선권 번호 10-2022-0077404
  • 우선권 국가 KR
  • 우선권 주장일 2022-06-24

  • 현재 상태 심사중
  • 현재 권리자
  • IPC 코드 H01L-021/02, H01L-021/321, H01L-021/28