• 요약 본 발명은 산화갈륨 전력 반도체의 상기 기판의 상부에 적층 형성된 산화갈륨 채널층, 소스 및 드레인 전극층의 상부에 절연층과 강유전체층이 1회 이상 교번하여 적층된 강유전체 게이트 스택층을 삽입하여, 향상 모드 및 고 이동도가 달성된 Ga2O3를 포함하는 산화갈륨 전력 반도체를 제공한다.
  • 대표 도면
  • R&D 프로젝트 시장주도형K-센서기술개발
  • 심판 위험 분석 심판 이력 없음
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  • 전략기술 분류 반도체·디스플레이
    A1

  • 특허 강도 지표
    13
    청구항
    0
    인용
    0
    패밀리
    3
    권리이전

  • 출원번호 10-2024-0124662 KIPRIS
  • 출원일 2024-09-12
  • 공개번호
  • 공개일
  • 등록번호 10-2867-4050000
  • 등록일 2025-09-26

  • 현재 상태 등록

  • IPC 코드 H10D 30/60; H10D 64/68; H10D 30/67; H10D 48/00

  • 대리인 김연권
  • 심사관 김상희

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