NRF-TCC : 한국연구재단 기술사업화센터

요약 본 발명은 OLED의 열화 수준에 따른 전기적 특성의 변화와, 유기물질의 열화로 발생하는 결함의 영향을 확인하여 열화된 OLED의 전기적 특성 변화 원인규명을 통해 수명을 예측하는 임피던스 분석을 통한 유기발광다이오드 수명 예측 방법 및 이를 위한 시스템에 관한 것이다.

대표 도면

R&D 프로젝트 국립한밭대학교 조기취업형 계약학과 선도대학(원) 육성 사업

심판 위험 분석 심판 이력 없음

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전략기술 분류 수소
B1
특허 강도 지표

8

청구항

9

인용

0

패밀리

3

권리이전
출원번호 10-2025-0019855 KIPRIS
출원일 2025-02-17
공개번호
공개일
등록번호 10-2798-3690000
등록일 2025-04-16
현재 상태 등록료납부
IPC 코드 G01R 31/26; H10K 71/70; G01R 27/26; G01R 27/02; G01R 19/12; G01R 19/08
대리인 특허법인도담
심사관 오경환
원문 보기 KIPRIS 원문