• 요약 본 발명에서는 Ⅲ족 n형 질화물계 반도체 소자에 있어서, 상기 반도체 소자의 n형 질화물계 클래드층에 질화물층이 형성된 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 Ⅲ족 n형 질화물계 반도체 소자가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 Ⅲ족 n형 질화물계 반도체 소자 및 이를 포함하는 발광다이오드 소자는, 레이저 조사에 의해 n형 질화물계 클래드층의 질소가 빠져나오면서 질화물층이 형성되고 n형 질화물계 클래드층에 질소공공(N vacancy)이 형성됨으로써 n형 질화물계 클래드층 표면의 캐리어 농도의 증가로 인한 터널링 현상에 의해 전류이동이 원활해질 뿐만 아니라, 열적 안정성을 확보하여 오믹특성을 유지할 수 있는 장점을 가진다. 따라서, 본 발명에 따르면 전기적 또는 열적 안정성이 향상된 Ⅲ족 n형 질화물계 반도체 소자 및 이를 포함하는 발광다이오드 소자를 사용할 수 있다는 장점이 있다.
  • 대표 도면
  • R&D 프로젝트 에너지기술개발사업; 산업원천기술개발사업
  • 심판 위험 분석 심판 이력 없음
  • 청구항 전체

    탭을 클릭하면 로딩됩니다...

  • 인용문헌

    탭을 클릭하면 로딩됩니다...

  • 패밀리특허

    탭을 클릭하면 로딩됩니다...

  • 권리이전 이력

    탭을 클릭하면 로딩됩니다...

  • 전략기술 분류 반도체·디스플레이
    A1

  • 특허 강도 지표
    16
    청구항
    6
    인용
    0
    패밀리
    5
    권리이전

  • 출원번호 10-2010-0114098 KIPRIS
  • 출원일 2010-11-16
  • 공개번호 10-2012-0052790
  • 공개일 2012-05-24
  • 공고번호
  • 공고일 2012-10-09
  • 등록번호 10-1188-9150000
  • 등록일 2012-09-28

  • 현재 상태 연차료납부

  • IPC 코드 H10H 20/816; H10H 20/825; H10H 20/812; H10H 20/00

  • 대리인 특허법인이지
  • 심사관 진수영

  • 원문 보기 KIPRIS 원문